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当前产品多功能衍射仪
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产品详情
1、DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的,是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。 • 硬件系统和软件系统的结合,满足不同应用领域学者、科研者的需要 • 高精度的衍射角度测量系统,获取更准确的测量结果 • 高稳定性的X射线发生器控制系统,得到更稳定的重复测量精度 • 各种功能附件满足不同测试目的需要 • 程序化操作、一体化结构设计,操作简便、仪器外型更美观2、X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器: • 未知样品中一种和多种物相鉴定 • 混合样品中已知相定量分析 • 晶体结构解析(Rietveld结构分析) • 非常规条件下晶体结构变化(高温、低温条件下) • 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 • 微区样品的分析 • 金属材料织构、应力分析
【完善的品质与性能的结合】 • DX系列衍射仪除了基本功能外,可快速配置各种附件,具有的分析能力 • 高精度的机械加工,使附件安装位置的重现性极大地提高,软件自动识别相应附件,不需要对光路进行校准,附件安装实现即插即用,的操作就可满足特殊目的测量的需要。
【高性能与实用的结合】 • 基于θ-θ几何光学设计,便于样品的制备和各种附件的安装 • 金属陶瓷X射线管的应用,极大提高衍射仪运行功率 • 封闭正比计数器,耐用免维护 • 硅漂移探测器具有的角度分辨率和能量分辨率,测量速度提高3倍以上 • 丰富的衍射仪附件,满足不同分析目的需要 • 衍射仪各种功能附件自动识别 • 模块化设计或称即插即用组件,操作人员不需要校正光学系统,就能正确使用衍射仪相应附件
【数据处理软件包括以下功能】 • 基本数据处理功能(寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等); • 无标准样品快速定量分析 • 晶粒尺寸测量 • 晶体结构分析(晶胞参数测量和精修)
• 多重绘图的二维和三维显示 • 衍射峰图群聚分析 • 衍射数据半峰宽校正曲线 • 衍射数据角度偏差校正曲线 • 基于Rietveld常规定量分析 • 使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析 • 使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析
• 宏观应力测量和微观应力计算
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