2651A源测量单元

大功率2651A 型数字源表进一步丰富了2600A 系列产品。该源表专门针对大功率电子器 件的特性分析和测试而优化设计，可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力，包 括高亮度LED、功率半导体、DC/DC 转换器、电池，以及其他大功率材料、元件、模块 和组件的特性分析和测试。

与2600A 系列产品的每个成员一样，2651A 具有高灵活性、四象限电压和电流源/负载， 组合了精密电压和电流表。该源表可作为：

• 半导体特征分析仪
• 电压或电流波形发生器
• 电压或电流脉冲发生器
• 精密电源
• 真电流源
• 数字多用表(直流电压，直流电流，电阻和功率，分辨率达5½位)
• 精密电子负载

主要特性：

• 源或阱：
- 2,000W脉冲功率(±40V，±50A);
- 200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)
• 方便地连接两个单元(串联或并联)形成±100A 或±80V 解决方案
• 1pA 分辨率，可精密测量极低的漏电流
• 1μs/点(1MHz)，连续18 位A/O 转换器，精确的瞬态特性分析
• 1%至99%脉冲占空比，适用于脉宽调制(PWM)驱动型器件和特殊驱动类型期间的激励
• 组合了精密电压源、电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器及测量、电子负载及触发控制器——多功能一体的仪器
• 包括TSP®Express 特性分析软件、LabVIEW®驱动，以及吉时利的Test Script Builder(测试脚本编辑器)软件开关环境。

典型应用：

• 功率半导体、HBLED 和光器件特性分析和测试
• GaN、SIC 及其他复合材料和
器件的特性分析
• 半导体结温度特性分析
• 高速、高精度数字化
• 电迁移研究
• 大电流、大功率器件测试

两种测量模式：数字化或积分

2651A 型有两种测量模式可对瞬态和稳态行为进行精密地特性分析，包括快速变化的热 效应。每种模式均由其独立的模/数(A/D)转换器定义。

在数字化测量模式下，连续进行1μs/点采样，每秒可捕获1,000,000 个读数。其18 位 A/D 转换器使用户能够精密测量瞬态特性。对于更准确的测量，可利用基于22 位A/D 转 换器的积分测量模式。全部2600A 系列仪器均具有积分测量模式。

Main features:

• source or well:

-2,000w pulse power (40V, 50A);

- 200W dc power (10V@ 20A, 20V@ 10A, 40V@ 5A)

• easily connect two units (in series or parallel) to form 100A or 80V solutions

• with 1pA resolution, extremely low leakage current can be accurately measured

• 1 s/ point (1MHz), continuous 18-bit A/O converter, accurate transient analysis

• 1% to 99% pulse duty cycle, suitable for excitation during pulse width modulation (PWM) driven devices and special drive types

• combination of precision voltage source, current source, digital multimeter, arbitrary waveform generator, voltage or current pulse generator and measurement, electronic load and trigger controller -- multi-functional instrument

, including TSP ® Express characteristics analysis software, and LabVIEW ® drive, as well as keithley Test Script Builder software switch environment (Test Script editor).

Typical applications:

• power semiconductor, HBLED and optical device characteristics analysis and testing

• GaN, SIC and other composite materials and materials

Analysis of device characteristics

• analysis of semiconductor junction temperature characteristics

• high-speed and high-precision digitalization

• electromigration studies

• testing of high-current and high-power devices

Two measurement modes: digital or integral

Type 2651A has two measurement modes for precise characterization of transient and steady-state behavior, including rapidly changing thermal effects. Each mode is defined by its own independent A/D converter.

Continuous 1 s/ point sampling in digital measurement mode can capture 1,000,000 readings per second. Its 18-bit A/D converter enables users to accurately measure transient characteristics. For more accurate measurements, an integral measurement mode based on A 22 bit A/D converter can be used. All 2600A series instruments have integral measurement mode.