光学器件扫描测试系统

Santec快速扫描系统由，，PCU-100偏振控制器组成。Santec专用的软件使得系统测量IL,WDL和PDL时化，既可用于研发，也可用于生产环境。通过实时校正，从可调谐激光器中同时获得输出功率，通过DUT传输到功率计，系统通过穆勒矩阵法提供高精度的IL,WDL,PDL分析。

• 实时功率校正
• 精确 WDL/PDL 特性测量
  - 高功率重复性 <±0.02>
  - 高PDL 重复性 ±0.01 dB
• 缩放算法
  - 高波长分辨率及精度
  - 减少测量时间
• 可多通道测量
• 支持用户图形界面及DLLs (Visual Studio)
  - 简易测量参数建立
  - 数据分析

WDL（波长相关损耗）测量

可进行80 dB高动态范围测量或更多

Santec可调谐激光器创新的腔体设计，可降低光ASE噪音，高信噪比超过90 dB / 0.1 nm以上，并且同时保持高输出功率 + 10 dBm以上。TSL系列可针对高密度波分复用（DWDM）和波长选择开关（WSS）等下一代光器件测试。以下图表是CWDM滤波器和陷波滤波器（如FBG）的测量数据。

Santec可调谐激光器配备有标准的波长监测器，是的光无源器件高精度测试仪器。下图是 Acetylene (12C2H2) 波长测量数据，从中可以看出高测量精度。

Santec高速扫描测试系统不仅可以进行光器件WDL测量，还可以测试高密度波分复用（DWDM），AWG,波长选择开关（WSS）或更多，而且在连续扫描时，有效保持超窄滤波器 (Ultra-high Q 腔体装置) 高分辨率。

• 器件及模块的光学特性：
  - 可调谐滤波器, 交织器, 光纤光栅, 耦合器, 分离器, 隔离器, 开关等
  - WSS和波长阻隔器
  - DWDM器件
• 硅光子材料特性 , 包括微腔环形谐振器
• 光谱学
• 干涉测量

配置

1. 偏振相关损耗测量

• 可调谐激光器 TSL-770 / TSL-570
• 偏振控制器 PCU-110
• 光功率计 MPM-210H

2. 波长相关损耗测量　(MPM-210H)

• 可调谐激光器 TSL-770 / TSL-570
• 光功率计 MPM-210H

多工位测试解决方案

In the multi-station measurement configuration, the TSL, PCU and MBU will act as a server that splits the trigger signal and light beam to different stations. Each station will consist of a client PC and a power meter. During operation, the TSL will sweep continuously allowing each station to work independently and simultaneously with other stations. In this way, the Multi-station measurement configuration can improve the efficiency of measurements for high-accuracy characterization and analysis.

• 可调谐激光器 TSL-570
• 偏振控制器PCU-110
• 分光器MBU-100
• 光功率计MPM-210H

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